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英國 藍牙 分體式測厚儀
更新時間：2025-10-16
訪問量：2004
廠商性質(zhì)：代理商
生產(chǎn)地址：英國
簡要描述：
英國Elcometer 456藍牙 分體式測厚儀: 測量范圍：0 - 500μm (0 - 20mils)； 操作溫度：鐵基：Z高150°C (300°F)*; 非鐵基 & FNF兩用： Z高 80°C (176°F)。
英國Elcometer 456藍牙 分體式測厚儀:
Elcometer 456分體式（插入式）可選擇不同的探頭，是測量各種金屬基體上多種涂層的功能zui齊全的儀器。有基本型、標準型和高級型可選。包括鐵基（F）、非鐵基（NF）和鐵基非鐵基兩用型（FNF）。 Elcometer 456先已具備藍牙無線技術(shù)。
各種探頭*可用互換:
所有鐵基型號主機可以匹配任何一種鐵基456探頭
所有非鐵基型號主機可以匹配任何一種非鐵基456探頭
所有兩用FNF型號主機可以匹配所有456探頭
非常適合于測量涂層厚度，無論地方大小、無論基體平滑或曲面，也無論露天還是狹窄區(qū)域
PSPC 就緒
英國Elcometer 456藍牙 分體式測厚儀:
| ELCOMETER 456 分體式部件編號 | |||
| 基本型 | 標準型 | 高級型 | |
| 鐵基分體式 | A456FBS | A456FSS | A456FTS |
| 非鐵基分體式 | A456NBS | A456NSS | A456NTS |
| 兩用分體式 FNF | A456FNFBS | A456FNFSS | A456FNFTS |
| Elcometer 456 分體式探頭是單獨供應的。請從以下列表中選擇合適的探頭 | |||
分體式探頭型號
Elcometer 456分體式有多種探頭型號和測量范圍可選。
標準型探頭 （F, NF & FNF）:
有標準直角或遠端選項可選，可滿足多數(shù)涂層測厚需求。
微型探頭 （F & NF）:
非常適合于測量難以接近的地方、小面積區(qū)域和鋼筋。微型探頭有直型、直角型和45°角可選。所有微型探頭都有45mm （1.77"） 或150mm （5.90"） 探頭長度可選?/p>
PINIP 探頭 （F, NF & FNF）:
插入型整體式探頭（PINIP）可擰入分體式主機，將分體式改裝成整體式，以便單手操作。'Bigfoot' 大腳探頭在大表面區(qū)域穩(wěn)定性更高。
另外還有高溫探頭可選，能夠測量zui高溫度達250° （480°F）的鐵基體上的涂層。
防水型探頭 （F）
適用于潮濕環(huán)境或水下zui深10米（32'8"）處。防水探頭有標準長度、5米（16'4"）和15米（49'2"）連線可選。
標準探頭規(guī)格:
| 操作溫度 | 鐵基zui高150°C （300°F）; 非鐵基和FNF兩用zui高 80°C （176°F） |
| 保存溫度 | -10 到 60°C （14 到140°F） |
| zui小基體厚度 |
| 探頭形式 | ||||
| 凸面直徑 | 凹面半徑 | 凈空高度 | zui小樣本半徑 | |
| F1 S | 4mm （0.16"） | 25mm （0.98"） | 85mm （3.35"） | 4mm （0.16"） |
| F1 2 S 中的F1 | 4mm （0.16"） | 25mm （0.98"） | 85mm （3.35"） | 4mm （0.16"） |
| F1 2 S 中的F2 | 4mm （0.16"） | 25mm （0.98"） | 89mm （3.50"） | 8mm （0.32"） |
| F1 RA | 4mm （0.16"） | 25mm （0.98"） | 28mm （1.10"） | 4mm （0.16"） |
| F1 2 RA 中的 F1 | 4mm （0.16"） | 25mm （0.98"） | 28mm （1.10"） | 4mm （0.16"） |
| F1 2 RA 中的 F2 | 4mm （0.16"） | 25mm （0.98"） | 32mm （1.26"） | 8mm （0.32"） |
| F1 T | 4mm （0.16"） | 25mm （0.98"） | 32mm （1.26"） | 4mm （0.16"） |
| F2 T | 4mm （0.16"） | 25mm （0.98"） | 36mm （1.42"） | 8mm （0.32"） |
| F3 S | 15mm （0.59"） | 40mm （1.57"） | 102mm （4.02"） | 14mm （0.55"） |
| F6 S | 35mm （1.4"） | 170mm （6.7"） | 150mm （5.9"） | 51mm （2"） x 51mm （2"） |
| N1 S | 35mm （1.38"） | 25mm （0.98"） | 85mm （3.35"） | 6mm （0.24"） |
| N1 RA | 35mm （1.38"） | 25mm （0.98"） | 28mm （1.10"） | 6mm （0.24"） |
| N1 AA | 35mm （1.38"） | 25mm （0.98"） | 85mm （3.35"） | 6mm （0.24"） |
| N2 S | 100mm （3.97"） | 150mm （5.90"） | 85mm （3.35"） | 14mm （0.55"） |
| N6 S | - | 400mm （15.8"） | 160mm （6.3"） | 58mm （2.3"） |
| FNF1 （N 模式） | 38mm （1.50"） | 25mm （0.98"） | 88mm （3.46"） | 8mm （0.32"） |
| FNF1 （F 模式） | 4mm （0.16"） | 25mm （0.98"） | 88mm （3.46"） | 4mm （0.16"） |
| FNF1 RA （N 模式） | 38mm （1.50"） | 25mm （0.98"） | 34mm （1.34"） | 8mm （0.32"） |
| FNF1 RA （F 模式） | 4mm （0.16"） | 25mm （0.98"） | 34mm （1.34"） | 4mm （0.16"） |
| 探頭類型 | 部件編號 | 測量范圍 | 度* | 分辨率 | ||||
| 公制 | 英制 | 公制 | 英制 | 公制 | 英制 | |||
| F1 S |  | T456F1S T456F1S-5** T456F1S-15*** | 0-1500μm | 0-60mils | ±1-3% 或 ±2.5μm | ±1-3% 或 ±0.1mil | 0.1μm 以內(nèi) 100μm 1μm 100-1500μm | 0.01mil 以內(nèi) 5mils 0.1mil 5-60mils |
| F1 2 S 中的F1 | T456F12S | 0-1500μm | 0-60mils | ±1-3% 或 ±2.5μm | ±1-3% 或 ±0.1mil | 0.1μm 以內(nèi) 100μm 1μm 100-1500μm | 0.01mil 以內(nèi) 5mils 0.1mil 5-60mils | |
| F1 2 S 中的F2 | 0-5mm | 0-200mils | ±1-3% 或 ±0.02mm | ±1-3% 或 ±1.0mil | 1μm 以內(nèi) 1mm 10μm 1-5mm | 0.1mil 以內(nèi) 50mils 1mil 50-200mils | ||
| F1 RA |  | T456F1R T456F1R-5** T456F1R-15*** | 0-1500μm | 0-60mils | ±1-3% 或 ±2.5μm | ±1-3% 或 ±0.1mil | 0.1μm 以內(nèi) 100μm 1μm 100-1500μm | 0.01mil 以內(nèi) 5mils 0.1mil 5-60mils |
| F1 2 RA 中的 F1 | T456F12R | 0-1500μm | 0-60mils | ±1-3% 或 ±2.5μm | ±1-3% 或 ±0.1mil | 0.1μm 以內(nèi) 100μm 1μm 100-1500μm | 0.01mil 以內(nèi) 5mils 0.1mil 5-60mils | |
| F1 2 RA 中的 F2 | 0-5mm | 0-200mils | ±1-3% 或 ±0.02mm | ±1-3% 或 ±1.0mil | 1μm 以內(nèi) 1mm 10μm 1-5mm | 0.1mil 以內(nèi) 50mils 1mil 50-200mils | ||
| F1 T |  | T456F1T | 0-1500μm | 0-60mils | ±1-3% 或 ±2.5μm | ±1-3% 或 ±0.1mil | 0.1μm 以內(nèi) 100μm 1μm 100-1500μm | 0.01mil 以內(nèi) 5mils 0.1mil 5-60mils |
| F2 T | | T456F2T | 0-5mm | 0-200mils | ±1-3% 或 ±0.02mm | ±1-3% 或 ±1.0mil | 1μm 以內(nèi) 1mm 10μm 1-5mm | 0.1mil 以內(nèi) 50mils 1mil 50-200mils |
| F3 S |  | T456F3S | 0-13mm | 0-500mils | ±1-3% 或 ±0.05mm | ±1-3% 或 ±2.0mil | 1μm 以內(nèi) 2mm 10μm 2-13mm | 0.1mil 以內(nèi) 100mils 1mil 100-500mils |
| F6 S | T456F6S | 0-25mm | 0-980mils | ±1-3% 或 ±0.1mm | ±1-3% 或 ±2.0mil | 10μm 以內(nèi) 2mm 100μm 2-25mm | 1mil 以內(nèi) 100mils 10mil 100-980mils | |
| N1 S |  | T456N1S | 0-1500μm | 0-60mils | ±1-3% 或 ±2.5μm | ±1-3% 或 ±0.1mil | 0.1μm 以內(nèi) 100μm 1μm 100-1500μm | 0.01mil 以內(nèi) 5mils 0.1mil 5-60mils |
| N1 RA | | T456N1R | 0-1500μm | 0-60mils | ±1-3% 或 ±2.5μm | ±1-3% 或 ±0.1mil | 0.1μm 以內(nèi) 100μm 1μm 100-1500μm | 0.01mil 以內(nèi) 5mils 0.1mil 5-60mils |
| N1 AA |  | T456N1AS | 0-1500μm | 0-60mils | ±1-3% 或 ±2.5μm | ±1-3% 或 ±0.1mil | 0.1μm 以內(nèi) 100μm 1μm 100-1500μm | 0.01mil 以內(nèi) 5mils 0.1mil 5-60mils |
| N2 S |  | T456N2S | 0-5mm | 0-200mils | ±1-3% 或 ±0.02mm | ±1-3% 或 ±1.0mil | 1μm 以內(nèi) 1mm 10μm 1-5mm | 0.1mil 以內(nèi) 50mils 1mil 50-200mils |
| N6 S | T456N6S | 0-30mm | 0-1200mils | ±1-3% 或 ±0.05mm | ±1-3% 或 ±2.0mil | 10μm 以內(nèi) 2mm 100μm 2-30mm | 1mil 以內(nèi) 100mils 10mil 100-1200mils | |
| FNF1 S | T456FNF1S | 0-1500μm | 0-60mils | ±1-3% 或 ±2.5μm | ±1-3% 或 ±0.1mil | 0.1μm 以內(nèi) 100μm 1μm 100-1500μm | 0.01mil 以內(nèi) 5mils 0.1mil 5-60mils | |
| FNF1 R | T456FNF1R | 0-1500μm | 0-60mils | ±1-3% 或 ±2.5μm | ±1-3% 或 ±0.1mil | 0.1μm 以內(nèi) 100μm 1μm 100-1500μm | 0.01mil 以內(nèi) 5mils 0.1mil 5-60mils | |
| * 度： 用接近測量值的膜片校準時可以達到±1%；通常都可達到±3%. ** 帶 5m 探頭線. ***帶15m 探頭線 | ||||||||
| 測量范圍 | 0 - 500μm （0 - 20mils） |
| 操作溫度 | 鐵基：zui高150°C （300°F）*; 非鐵基 & FNF兩用： zui高 80°C （176°F） |
| 保存溫度 | -10 到 60°C （14 到 140°F） |
| 度** | ±1-3% 或±2.5μm / ±1-3% 或 ±0.1mil |
| 分辨率 | 100μm以下： 0.1μm； 100 - 500μm: 1μm （5mil以下： 0.01mil； 5 - 20mils: 0.1mil） |
| zui小基體厚度 | 鐵基：0.3mm （12mils）; 非鐵基：0.1mm （4mils） |
| * 45mm鐵基直探頭帶套：zui高 80°C （176°F） | |
| ** 度： 用接近測量值的膜片校準時可以達到±1%；通常都可達到±3%. | |
| 探頭類型* | 部件編號 | |||||
| zui小凸面直徑 | zui小凹面半徑 | zui小樣本直徑 | zui小距離 | |||
| 高度 | 寬度 | |||||
| 鐵基微型探頭 | ||||||
| 直探頭, 45mm （1.77"） | T456FM3---A | 1.5mm （0.06"） | 6.5mm （0.26"） | 3mm （0.12"） | 6mm （0.24"） | |
| 直探頭, 150mm （5.90"） | T456FM3---C | 1.5mm （0.06"） | 6.5mm （0.26"） | 3mm （0.12"） | 6mm （0.24"） | |
| 45° 探頭, 45mm （1.77"） | T456FM3R45A | 1.5mm （0.06"） | 6.5mm （0.26"） | 3mm （0.12"） | 18mm （0.71"） | 7mm （0.28"） |
| 45° 探頭, 150mm （5.90"） | T456FM3R45C | 1.5mm （0.06"） | 6.5mm （0.26"） | 3mm （0.12"） | 18mm （0.71"） | 7mm （0.28"） |
| 90° 探頭, 45mm （1.77"） | T456FM3R90A | 1.5mm （0.06"） | 6.5mm （0.26"） | 3mm （0.12"） | 16mm （0.63"） | 7mm （0.28"） |
| 90° 探頭, 150mm （5.90"） | T456FM3R90C | 1.5mm （0.06"） | 6.5mm （0.26"） | 3mm （0.12"） | 16mm （0.63"） | 7mm （0.28"） |
| 非鐵基微型探頭 | ||||||
| 直探頭, 45mm （1.77"） | T456NM3---A | 3mm （0.12"） | 25mm （0.98"） | 4mm （0.16"） | 6mm （0.24"） | |
| 直探頭, 150mm （5.90"） | T456NM3---C | 3mm （0.12"） | 25mm （0.98"） | 4mm （0.16"） | 6mm （0.24"） | |
| 45° 探頭, 45mm （1.77"） | T456NM3R45A | 3mm （0.12"） | 25mm （0.98"） | 4mm （0.16"） | 18mm （0.71"） | 7mm （0.28"） |
| 45° 探頭, 150mm （5.90"） | T456NM3R45C | 3mm （0.12"） | 25mm （0.98"） | 4mm （0.16"） | 18mm （0.71"） | 7mm （0.28"） |
| 90° 探頭, 45mm （1.77"） | T456NM3R90A | 3mm （0.12"） | 25mm （0.98"） | 4mm （0.16"） | 16mm （0.63"） | 7mm （0.28"） |
| 90° 探頭, 150mm （5.90"） | T456NM3R90C | 3mm （0.12"） | 25mm （0.98"） | 4mm （0.16"） | 16mm （0.63"） | 7mm （0.28"） |
| * 可根據(jù)要求提供其它長度的探頭。更多信息請 Elcometer. | ||||||
| 操作溫度 | zui高 80oC （176oF）帶測量周期限制； 高溫 PINIP 探頭zui高250oC （480oF）帶測量周期限制 （每15秒鐘讀取一次） |
| 保存溫度 | -10 到 60oC （14 到 140oF） |
| zui小基體厚度 | 鐵基： 0.3mm （12mils）; 非鐵基： 0.1mm （4mils） |
| 探頭類型 | 凸面直徑 | 凹面半徑 | 凈空高度 | zui小樣品直徑 |
| F1 | 4mm （0.16"） | 60mm （2.36"） | 155mm （6.09"） | 4mm （0.16"） |
| F1 2 中的 F1 | 4mm （0.16"） | 60mm （2.36"） | 155mm （6.09"） | 4mm （0.16"） |
| F1 2 中的 F2 | 4mm （0.16"） | 60mm （2.36"） | 159mm （6.25"） | 8mm （0.32"） |
| F1 2 高溫PINIP 中的 F1 | 4mm （0.16"） | 60mm （2.36"） | 155mm （6.09"） | 4mm （0.16"） |
| F1 2 高溫PINIP 中的 F2 | 4mm （0.16"） | 60mm （2.36"） | 159mm （6.25"） | 8mm （0.32"） |
| F3 | 15mm （0.59"） | 45mm （1.77"） | 169mm （6.65"） | 14mm （0.55"） |
| N1 | 35mm （1.38"） | 50mm （1.77"） | 155mm （6.09"） | 6mm （0.24"） |
| FNF （N模式） | 38mm （1.50"） | 55mm （2.17"） | 154mm （6.15"） | 8mm （0.32"） |
| FNF （F 模式） | 4mm （0.16"） | 55mm （2.17"） | 154mm （6.15"） | 4mm （0.16"） |
| 探頭類型 | 部件編號 | 測量范圍 | 度* | 分辨率 | |||
| 公制 | 英制 | 公制 | 英制 | 公制 | 英制 | ||
| F1 PINIP | T456F1P | 0-1500μm | 0-60mils | ±1-3% 或 ±2.5μm | ±1-3% 或 ±0.1mil | 0.1μm 以內(nèi) 100μm 1μm 100-1500μm | 0.01mil 以內(nèi) 5mils 0.1mil 5-60mils |
| F1 2 PINIP?o:p> | T456F12P | 0-1500μm | 0-60mils | ±1-3% 或 ±2.5μm | ±1-3% 或 ±0.1mil | 0.1μm 以內(nèi) 100μm 1μm 100-1500μm | 0.01mil 以內(nèi) 5mils 0.1mil 5-60mils |
| F1 2 PINIP?/font> 中的 F2 | T456F12P | 0-5mm | 0-200mils | ±1-3% 或 ±0.02mm | ±1-3% 或 ±1.0mil | 1μm 以內(nèi) 1mm 10μm 1-5mm | 0.1mil 以內(nèi) 50mils 1mil 50-200mils |
| F1 2 高溫PINIP?o:p> | T456F12PHT | 0-1500μm | 0-60mils | ±1-3% 或 ±2.5μm | ±1-3% 或 ±0.1mil | 0.1μm 以內(nèi)o 100μm 1μm 100-1500μm | 0.01mil 以內(nèi) 5mils 0.1mil 5-60mils |
| F1 2 高溫PINIP?o:p> | T456F12PHT | 0-5mm | 0-200mils | ±1-3% 或 ±0.02mm | ±1-3% 或 ±1.0mil | 1μm 以內(nèi) 1mm 10μm 1-5mm | 0.1mil 以內(nèi) 50mils 1mil 50-200mils |
| F3 PINIP?/font> | T456F3P | 0-13mm | 0-500mils | ±1-3% 或 ±0.05mm | ±1-3% 或 ±2.0mil | 1μm 以內(nèi) 2mm 10μm 2-13mm | 0.1mil 以內(nèi)100mils 1mil 100-500mils |
| N1 PINIP?/font> | T456N1P | 0-1500μm | 0-60mils | ±1-3% 或 ±2.5μm | ±1-3% 或 ±0.1mil | 0.1μm 以內(nèi) 100μm 1μm 100-1500μm | 0.01mil 以內(nèi) 5mils 0.1mil 5-60mils |
| FNF PINIP?/font> | T456FNF1P | 0-1500μm | 0-60mils | ±1-3% 或 ±2.5μm | ±1-3% 或 ±0.1mil | 0.1μm 以內(nèi) 100μm 1μm 100-1500μm | 0.01mil 以內(nèi) 5mils 0.1mil 5-60mils |
| * 度： 用接近測量值的膜片校準時可以達到±1%；通常都可達到±3%. | |||||||
防水探頭規(guī)格
| 操作溫度 | zui高50°C （122°F）. 短時使用zui高80°C （176°F ） |
| 保存溫度 | -10 到 60°C （14 到 140°F） |
| zui小基體厚度 | 0.3mm （12mils） |
| 探頭類型 | 凸面直徑 | 凹面半徑 | 凈空高度 | zui小樣本直徑 |
| F1 | 4mm （0.16"） | 40mm （1.57"） | 130mm （5.12"） | 4mm （0.16"） |
| F1 2 中的 F1 | 4mm （0.16"） | 40mm （1.57"） | 130mm （5.12"） | 4mm （0.16"） |
| F1 2 中的 F2 | 4mm （0.16"） | 40mm （1.57"） | 130mm （5.12"） | 8mm （0.32"） |
| F3 | 15mm （0.6"） | 40mm （1.57"） | 130mm （5.12"） | 14mm （0.55"） |
| 探頭類型 | 部件編號 | 測量范圍 | 度* | 分辨率 | |||
| 公制 | 英制 | 公制 | 英制 | 公制 | 英制 | ||
| F1 S | T456F1SW T456F1SW-5** T456F1SW-15*** | 0-1500μm | 0-60mils | ±1-3% 或 ±2.5μm | ±1-3% 或 ±0.1mil | 0.1μm 以內(nèi) 100μm 1μm 100-1500μm | 0.01mil 以內(nèi) 5mils 0.1mil 5-60mils |
| F1 2 S 中的 F1 | T456F12SW T456F12SW-5** T456F12SW-15*** | 0-1500μm | 0-60mils | ±1-3% 或 ±2.5μm | ±1-3% 或 ±0.1mil | 0.1μm 以內(nèi) 100μm 1μm 100-1500μm | 0.01mil 以內(nèi) 5mils 0.1mil 5-60mils |
| F1 2 S 中的 F2 | 0-5mm | 0-200mils | ±1-3% 或 ±0.02mm | ±1-3% 或 ±1.0mil | 1μm 以內(nèi) 1mm 10μm 1-5mm | 0.1mil 以內(nèi) 50mils 1mil 50-200mils | |
| F3 S | T456F3SW T456F3SW-5** T456F3SW-15*** | 0-13mm | 0-500mils | ±1-3% 或 ±0.05mm | ±1-3% 或 ±2.0mil | 1μm 以內(nèi) 2mm 10μm 2-13mm | 0.1mil 以內(nèi) 100mils 1mil 100-500mils |
| * 度： 用接近測量值的膜片校準時可以達到±1%；通常都可達到±3%. ** 帶 5m 探頭線. ***帶15m 探頭線 | |||||||
